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薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據(jù)測(cè)量材料可選擇不同測(cè)力范圍滿足不同測(cè)量任務(wù)需求。

低測(cè)力可達(dá)0.06N，高分辨率0.01μm。

分辨率：1μm

測(cè)力：0.4-1.6N（根據(jù)需要選擇）

分辨率：0.1μm

測(cè)力：0.3-1.3N（根據(jù)需要選擇）

分辨率：0.01μm

測(cè)力：0.06-0.8N（根據(jù)需要選擇）

分辨率：1μm

測(cè)力：0.4-1.6N（根據(jù)需要選擇）

分辨率：0.1μm

測(cè)力：0.3-1.3N（根據(jù)需要選擇）

分辨率：0.01μm

測(cè)力：0.06-0.8N（根據(jù)需要選擇）